Felületelemzés XPS segítségével

Célkitűzés
A Röntgen-Fotoelektron Spektroszkópiával (angolul XPS-eljárás) történő felszínelemzés célja, hogy ellenőrizzük, minden anyagot letisztítottunk-e a PALTOP impllantátum felszínéről és nem maradt semmiféle szennyezőanyag rajta.

Eljárás
Ezt az XPS-vizsgálatot a Technion Izraeli Fejlesztési és Kutatási Alapítvány Szilárd Fizikai Intézetében végezték el. A PALTOP Implantátumokat összehasonlították a konkurens vezető cégekéivel. A vizsgálati módszer a Röntgen-Fotoelektron Spektroszkópiás eljáráson alapul. A mintákat monokromatikus röntgenfénnyel világítják meg, hogy elemezni lehessen a felszínüket. A kutatási spektrumot 150 elektronvoltos mozgási energiánál rögzítették, melyből a felszín kémiai összetételét meghatározták. Az atom koncentrációt elemi érzékenységű faktorok segítségével határozták meg, szabványosítási eljárások alkalmazása nélkül.

Eredmények
A vizsgálat két véletlenszerűen kiválasztott területen folyt. Az elemi, kvantitatív elemzés és a titánium oxid réteg vastagságának vizsgálati eredménye lejjebb látható.

Az XPS analízis az implantátum felszínének kémiai összetételét vizsgálja. A Ti-Al-V nyers alapanyokon felül magas szintű oxigén jelenléte látható, mely a titánium oxid része, ami az osszeointegráció szubsztrátja. A nitrogén és a szén a légkörből származik. Semmilyen más szennyeződés és maradvány nem található a gyártási folyamat után, amely a Paltop implantátumok makulátlan tisztaságát bizonyítja.

Következtetések
A felületi kezelést, a méreteket és más egyéb tulajdonságokat a Paltop ellenőrzi, statisztikai folyamatellenőrzés során. Ez a rendszer biztosítja a tartozékok folyamatos monitorozását az elkészült termékek utólagos ellenőrzése helyett, ezáltal biztosítva, hogy minden egyes tartozék megfelel a szabványoknak és elvárásoknak. Ez a proaktív megközelítés lehetővé teszi a cég számára, hogy rögtön azonosíthasson olyan gyártási folyamatokat, amelyek befolyásolhatják a gyártás minőségét. Ez a valós idejű megfigyelés konzisztensebb és megbízhatóbb termékeket, hatékonyabb termelést és versenyképesebb árakat biztosít, mivel a vásárlóknak nem kell rejtett, a gyártásból származó költségeket megfizetniük.

It can be concluded that PALTOP’s surfaces with regards to undesirable contamination, occlusions and residues are pure and safe for use.

SEM/EDS általi felszíni analízis

Célkitűzés
Az SEM/EDS felszíni analízis célja az volt, hogy igazoljuk a makró és mikró struktúrák jelenlétét, és hogy megvizsgáljuk, hogy a gyártási folyamat után maradt-e szennyeződés az implantátumok felületén.

Eredmények
Ahogy a 1.5-ös ábrán látszik, a kezelt felületekről készült felvételeken semmilyen szennyeződés nem található, ami azt jelenti, hogy a homokfúvás és a felszíni kezelés maradványai tökéletesen eltűnnek a tisztítás folytán.

Ezen felül az elektron-mikroszkópos felvételeken láthatóak a makro, mikro és nano felszínek, amelyek a csont morfológiájára hasonlítanak.

Az eredményekből következtethető, hogy a Paltop implantátumain látható durva felszín ideális környezetet biztosít a csont beépülésének és a biomechanikai stabilitásnak.